Statische Tests: Formale und nicht formale Dokumente richtig nutzen
Fachartikel in der Elektronikpraxis Leseprobe: „Auf hohe Softwarequalität zu verzichten kann sich heute kein Unternehmen mehr leisten. Umso erstaunlicher ist es, dass auf ein bewährtes Instrumentarium für die Messung und Sicherstellung von Qualität zu wenig...
FlexRay-Evaluierung
Fachartikel in der Februar-Ausgabe der Hitex-Info Leseprobe: „Das Flex-XC-KIT, das im Rahmen einer Kooperation zwischen Hitex, Infineon und Mixed Mode entstand, wird auf der Embedded World 2008 erstmals der Öffentlichkeit vorgestellt.“ Den Artikel können...
Mehr als ein einfacher Bus-Analyzer
Fachartikel in der Elektronikpraxis Leseprobe: „Hitex und Mixed Mode haben ihr Know-how zusammengetragen und gemeinsam einen Bus-Analyzer für FlexRay und CAN entwickelt. Das ist aber erst der Anfang der Kooperation.“ Den Artikel können Sie in der Ausgabe...







